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기계공학부

공지사항

[공통] 중앙연구기기센터 신규장비 시험 운영 안내(장비명: 고분해능 이중 구면수차보정 투과전자현미경)

작성자기계공학부  조회수56 Date2023-03-06

중앙연구기기센터에 설치 완료된 신규도입 연구장비에 대한 시험가동 및 서비스 제공 사항을 다음과 같이 안내드립니다.

(시험기간 동안 무료로 이용)

. 장비명: 고분해능 이중 구면수차보정 투과전자현미경(with TEM Cs, STEM Cs)

. 모델명(제조사): JEM-ARM300F2(JEOL, JAPAN)

. 장비 성능

 

JEM-ARM300F2(JEOL, JAPAN)

- Electron Gun : Cold Field Emission Gun

- Accelerating Voltage : 40 kV, 60 kV, 80 kV, 200 kV, 300 kV(기본)
(가속전압 변경 시, alignment 시간이 추가로 소요될 수 있음)

 

- TEM Lattice Resolution(TEM Cs corrector) : 50 pm at 300 kV

- STEM Resolution(STEM Cs corrector) : 53 pm at 300 kV

- STEM Energy Resolution : <0.35 eV

 

- EDS : dual SDD system(158 mm2 ×2, 0.705 sr×2), <133 eV at Mnkα

- Camera : Oneview(25 fps at 4k×4k)

- STEM detector : HAADF, LAADF, BF, ABF

- Gatan Image Filter : Continuum ER (EF-TEM, EELS)

- 3D tomography system

- Pixelated STEM detector : 4D Canvas(1,000 fps at full frame readout, 264×264 pixels)

상기 장비의 분해능 및 검출기 정보를 참고하여 분석요청 사항을 담당자에게 전달하여 주시기 바람

 . 시험가동 기간: 2023.03.06. ~ 04.07.

(* 34일부터 센터 홈페이지(https://gcrf.gist.ac.kr)를 통해 예약가능하며, 운영 상황에 따라 기간은 변경될 수 있음)

. 시험분석료: 시험분석료 책정 확정시까지 무료 서비스 제공

. 담당자: 문진영 박사(T.5253/moonjy21@gist.ac.kr), 홍상현 박사(T.5245/hong@gist.ac.kr)

 

 

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